Numune Kıvrım Kesme Parlatma Ve Aşındırma Mikrograf Ölçüm Sistemi

Microlab ürün ailesi, iletken kıvrımların ve yalıtım kıvrımlarının kesitlerini birkaç dakika içinde kolay ve rahat bir şekilde hazırlamak üzere tasarlanmıştır. Numunenin kesilmesi, parlatılması ve aşındırma işleminden sonra kesitin görüntüsü ekranda görselleştirilebilir. Şimdi kıvrımın kapsamlı bir kalite kontrolü, özel olarak tasarlanmış görüntü işleme yazılımı X-Scan kullanılarak gerçekleştirilebilir.

Yüksek kaliteli 12x zoom objektife sahip Microlab ML 3700, kalite testlerini hızlı ve rahat bir şekilde yapmak için ideal bir araçtır. Yüksek çözünürlüklü kamera, görüntü işleme yazılımı X-Scan'in otomatik fonksiyonu ile kolayca ölçülebilen birinci sınıf dijital renkli görüntüler sunar. Otomatik olarak oluşturulan kayıtlar kalite kanıtı olarak kullanılabilir. Elbette, X-Scan ilgili tüm DIN standartlarını ve OEM spesifikasyonlarını karşılar.

Performans Özellikleri
-Bir MDF panosuna entegre edilmiş komple mikrograf laboratuvarı

-Olağanüstü yakınlaştırma ve çözünürlük kombinasyonuna sahip 12x zoom objektifi ile kolayca çalıştırılan optik

-Özel ışığa duyarlı CMOS sensörlü ve 5.0 megapiksel çözünürlüğe sahip birinci sınıf dijital renkli kamera USB 3.0

-0,1 İla 10 mm2 arası kesitler için çok uygundur (AWG 28 - AWG 10)

-Rahat analiz yazılımı X-Scan

İsteğe bağlı: Hassas kesim kontrolü için entegre Kesim Kamerası (VCS), dokunmatik ekranla kolayca çalıştırılabilir

İsteğe bağlı: Ekipman paketleri daha büyük ölçüm nesneleri için yardımcı lensler 0,25x veya 0,5x

İsteğe bağlı: ML 3700-entegre mini PC içeren pc versiyonu. Windows 10 prof., monitör, fare ve klavye lisansı)